應用描述
檢測手機芯片表面臟污、劃傷等缺陷。通過選用球積分光源，降低光源工作距離，將臟污、劃傷明顯區別出來。
實物圖
效果圖
手機芯片缺陷檢測案例說明下載
手機芯片缺陷檢測例程下載
相關產品
OPT-RID52-W
采用特制漫射板，使光源發出的光線均勻分布在整個圖像上； 有效消除表面不平整形成的干擾。
地址：廣東省東莞市長安鎮興發南路66號之一 電話：+86-769-82716188 傳真：+86-769-81606698 郵箱：optmv@optmv.com
咨詢熱線
OPT微信公眾號