新聞詳情
全新NI PXI射頻開關為規模化測試系統延壽提速
http://www.sharifulalam.com 2012-08-14 10:43 來源：美國國家儀器（NI）有限公司
新聞要點
· 對于許多規模化的生產測試應用，包括半導體和移動終端測試，新的射頻開關不但增加了測試吞吐量且保證了長期的測量可重復性。
· 開關模塊進一步擴大了NI PXI模塊化儀器的板卡家族，幫助射頻工程師面對最新的挑戰。
新聞發布
－ 2012年8月－ 美國國家儀器公司（National Instruments, 簡稱 NI）近日發布新的NI PXI/PXIe-2543固態射頻多路復用器，為工程師提供了一個長期高效的解決方案來對高達6.6GHz的射頻信號的路由進行優化。相較傳統的機電開關解決方案，NI PXI/PXIe-2543的固態構架能夠實現更加快速的開關以及多次重復測量。
感言：
“新的NI PXI/PXIe-2543固態開關是基于行業領先的NI PXI平臺的成功經驗構建而成，其固態架構為射頻應用提供了高速度和可靠性。”美國國家儀器有限公司測試市場總監Charles Schroeder如是說道，“使用這個開關，自動化測試領域的工程師可以整合并同步許多PXI儀器，包括射頻發生器和分析儀，從而最大化測試系統的投入產出比并能夠進一步提高精確度和吞吐量。”
產品特性
針對于高密度射頻開關的6.6GHz雙4x1多路復用器，適用于多站測試
采用固態架構，延長了開關的使用壽命
所有通道都使用了50 Ohm終端，提高射頻性能
整合PXI觸發以進行快速可重復的測量
訪問相關資源，了解更多關于NI PXI/PXIe-2543以及其他NI開關,請訪問http://www.ni.com/rf/zhs/
關于NI
自1976年以來，美國國家儀器，簡稱NI(www.ni.com）一直致力于為工程師和科學家提供各種工具來提高效率、加速創新和探索。NI的圖形化系統設計方法為工程界提供了集成式的軟硬件平臺,有助于加速測量和控制系統的開發。長期以來，NI一直期望并努力通過自身的技術來改善社會的發展，確保客戶、員工、供應商及股東獲得成功。
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